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產(chǎn)品詳細(xì)頁
FEI “Q系列”掃描電子顯微鏡

FEI “Q系列”掃描電子顯微鏡

  • 產(chǎn)品介紹:FEI “Q系列"掃描電子顯微鏡
    是較經(jīng)濟(jì)、高效的高分辨成像和分析應(yīng)用的解決方案。在設(shè)計(jì)上側(cè)重易用性、Q25可以讓用戶迅速得到他們所需的數(shù)據(jù)。
  • 產(chǎn)品型號:
  • 更新時間:2024-07-18
  • 廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
  • 產(chǎn)品品牌:其他品牌
  • 產(chǎn)品廠地:廣州市
  • 訪問次數(shù):2353
  • 在線留言 4006681210

產(chǎn)品介紹

品牌其他品牌

FEI “Q系列”掃描電子顯微鏡

對于失效分析、質(zhì)量控制和材料表征而言、Q25是最經(jīng)濟(jì)、高效的高分辨成像和分析應(yīng)用的解決方案。在設(shè)計(jì)上側(cè)重易用性、Q25可以讓用戶迅速得到他們所需的數(shù)據(jù)。 

為應(yīng)對不導(dǎo)電樣品、Q25提供了低真空模式下的高性能、消除了對的樣品制備步驟或者附加的樣品鍍膜儀的需求。Q25樣品室的設(shè)計(jì)和真空系統(tǒng)能夠快速更換樣品、允許日常高效、快速檢測樣品。 

為滿足客戶對大樣品或塊狀樣品的要求、Q45提供了更大的真空樣品室和100mm的樣品臺行程。另外、Q45加上了環(huán)境掃描(ESEM)模式、擴(kuò)展了SEM的成像和分析功能到加熱、含水或放氣的樣品。

 簡單易用,即使是新手利用直觀的軟件可實(shí)現(xiàn)高效操作。 
 利用穩(wěn)定的高束流(上至2 μA)電子束可以迅速獲得精確的分析結(jié)果。 
快速輕松表征導(dǎo)電和非導(dǎo)電樣品 
 支持可選的分析功能。利用獨(dú)有的多級穿過透鏡的真空系統(tǒng)在高真空和低真空下使導(dǎo)電樣品和不導(dǎo)電樣品的精確EDS分析成為可能。 
Q45 SEM: 采用為ESEM選配的帕爾貼冷臺可在樣品的自然含水狀態(tài)下完成樣品的動態(tài)原位分析。

FEI “Q系列”掃描電子顯微鏡

 分辨率加速
電壓
探針電流 樣品臺放大率試件室尺寸
Q25 SEM

High vacuum 

  • 3.0 nm at 30 kV (SE)

  • 4.0 nm at 30 kV (BSE)*

  • 8.0 nm at 3 kV (SE)

Low vacuum

  • 3.0 nm at 30 kV (SE)

  • 4.0 nm at 30k V (BSE)*

  • 10 nm at 3 kV (SE)

*optional

200 V - 30 kVup to 2 μA, continuously adjusted13 to 1000000x284 mm size left to right
Q45 SEM

High vacuum 

  • 3.0 nm at 30 kV (SE)

  • 4.0 nm at 30 kV (BSE)*

  • 8.0 nm at 3 kV (SE)

High vacuum with beam deceleration option 7.0 nm at 3 kV(BD mode* + vCD*) 

Low vacuum

  • 3.0 nm at 30 kV (SE)

  • 4.0 nm at 30k V (BSE)*

  • 10 nm at 3 kV (SE)

Extended vacuum mode (ESEM)
3.0 nm at 30 kV (SE) 

*optional

200 V - 30 kVup to 2 μA, continuously adjusted6 to 1000000x284 mm size left to right
 

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